Tekscan F-Scan jalan paineen mittaus kengässä

Tekscan F-Scan jalan paineen mittaus kengässä

Tekscan F-Scan jalan paineen mittaus kengässä

Tekscan F-Scan on jalan paineen ja voiman jakauman mittaamiseen tarkoitettu järjestelmä. Kyseinen järjestelmä koostuu ohuista antureista, jotka sijoitetaan kenkien sisään. Järjestelmä rekisteröi, näyttää ja tallentaa paineen ja voiman jakauman ilman, että tämä vaikuttaa normaaliin kävelytapaan. Saatu kvantitatiivinen tieto parantaa diagnoosien arviointi-, todistus- sekä dokumentointimahdollisuuksia. Tekscan F-Scan-järjestelmä antaa käyttäjälle kuvan myös kengän sisäpuolelta. 

F-Scan™-järjestelmä omaa edistyneen mutta helppokäyttöisen ohjelmiston paineen jakauman havainnollistamiseksi 2D- ja 3D-muodossa sekä yksinkertaisina kuvaajina. Mittaus on helppo suorittaa ja mittaaja saa täydelliset tiedot paineen jakaumasta koko kävelysyklin ajalta. Tallennus jopa 850 kuvaa / s.

Anturi voidaan leikata halutun kokoiseksi. Resoluutio on 4 mittauspistettä / cm².

Sovellukset:

– Liian korkean paineen omaavien riskialueiden tunnistaminen ja ennaltaehkäisy (esim. diabetespotilailla)

– Ortopedisten tukien ja ortoosien tehon analysointi

– Tietyn jalkakirurgian objektiivinen arviointi 

– Rappeuttavan jalkavaivan etenemisen objektiivinen seuranta 

– Poikkeavan kävelytyylin tarkkailu ja analysointi

– Tukien ja ortoosien räätälöinti leikkauksen jälkeen 

 

 

Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa.

Ole hyvä, ja ota yhteyttä meihin saadaksesi lisätietoa.

Tekscan tuotevastaava:

Tobias Widman
+46 8 50 52 68 02
tw@camatsystem.com

(ruotsi, englanti)

 


    Tekscan F-Scan jalan paineen mittaus kengässä
    Art.nr
    Järjestelmän tyyppi Paineen mittausjärjestelmä (tuotekehitys ja testaus) / Paineen mittausjärjestelmä (ihmiset ja eläimet)

    Saatat myös pitää...

    Tutustu myös

    Aktuellt

    • Chauvin Arnoux Group – CA Mätsystem Sähkömessuilla Jyväskylässä 7-9.2.2024!
      2024-01-09

      CA osallistuu Jyväskylässä järjestettäville SähköValoTeleAv -messuille 7-9.2.2024. Tule tutustumaan Chauvin Arnoux sekä Metrix mittalaitteisiin messuosastollemme D 101!

    • Teknologia 23 -messut 7-9.11.2023
      2022-10-20

      Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.

    • UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!
      2021-07-01

      Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä.           

    • UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!
      2021-02-17

      Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com