Fujifilm UVSCALE

Fujifilm UVSCALE

Fujifilm UVSCALE tekee ultraviolettivalon jakauman mittaamisesta helppoa. Leikkaa mittauskohteeseen soveltuvan kokoinen pala rullasta. 

Kalvon rakenne

Peruskalvon toinen puoli omaa UV-valoherkän pinnan ja vastakkainen puoli omaa valkoisen pinnan. Valoherkän pinnan väri muuttuu UV-säteilyn määrän mukaan, joten valolle altistuvan pinnan valomäärä on helposti nähtävissä tarkastelemalla valoherkkää pintaa. Valkoisen pinnan väritiheys vastaa vastaanotettua UV-valon määrää, joten valomäärän jakauma on helposti tarkasteltavissa valoherkältä pinnalta.

Toimintaperiaate

Mikrokapseleiden väriä muodostava materiaali reagoi UV-valoon ja vaihtaa näin ollen väriä.

 

Lisätietoa löydät alla olevista datalehtisistä, Fujifilm-sivuilta tai olemalla yhteydessä meihin.

 

E-post(Pakollinen)
Kenttä on validointitarkoituksiin ja tulee jättää koskemattomaksi.
Tuotekoodi
Malli UVSCALE L UVSCALE M UVSCALE H
Valon määrän mittausalue (mJ/cm2) 4 - 60 60 - 700 700 - 6000
Koko 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia)
Paksuus 0,1 mm 0,1 mm x 2 0,1 mm x 2
Kalvon tyyppi yksikalvoinen kaksikalvoinen kaksikalvoinen
Hinta 520 € 520 € 520 €
Tuotekoodi
Malli UVSCALE L UVSCALE M UVSCALE H
Valon määrän mittausalue (mJ/cm2) 4 - 60 60 - 700 700 - 6000
Koko 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia)
Paksuus 0,1 mm 0,1 mm x 2 0,1 mm x 2
Kalvon tyyppi yksikalvoinen kaksikalvoinen kaksikalvoinen
Hinta 520 € 520 € 520 €

Saatat pitää myös…

Ajankohtaista

  • CA Mätsystem osallistuu marraskuussa Teknologiamessuille!
    2025-03-04

    CA Mätsystem osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologiamessuille 4-6.11.2025. Tervetuloa osastollemme 6c21 tutustumaan erilaisiin sähköturvallisuustestereihin, materiaalitestauksessa käytettäviin testijalustoihin, pintapaineen mittaukseen sekä sähkön laadun ja kulutuksen seurantaan keskittyviin laitteisiin! Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja. Nähdään osastolla 6c21!

  • Verkosto-messut 22-23.1.2025
    2024-10-18

    Chauvin Arnoux Group osallistuu Tampereella järjestettäville energia- ja tietoverkkoalan ammattimessuille 22-23.1.2025. Tervetuloa tutustumaan Chauvin Arnoux ja Metrix -mittalaitteisiin osastolle A 101!

  • Chauvin Arnoux Group – CA Mätsystem Sähkömessuilla Jyväskylässä 7-9.2.2024!
    2024-01-09

    CA osallistuu Jyväskylässä järjestettäville SähköValoTeleAv -messuille 7-9.2.2024. Tule tutustumaan Chauvin Arnoux sekä Metrix mittalaitteisiin messuosastollemme D 101!

  • Teknologia 23 -messut 7-9.11.2023
    2022-10-20

    Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.