Fujifilm UVSCALE

Fujifilm UVSCALE

Fujifilm UVSCALE tekee ultraviolettivalon jakauman mittaamisesta helppoa. Leikkaa mittauskohteeseen soveltuvan kokoinen pala rullasta. 

Kalvon rakenne

Peruskalvon toinen puoli omaa UV-valoherkän pinnan ja vastakkainen puoli omaa valkoisen pinnan. Valoherkän pinnan väri muuttuu UV-säteilyn määrän mukaan, joten valolle altistuvan pinnan valomäärä on helposti nähtävissä tarkastelemalla valoherkkää pintaa. Valkoisen pinnan väritiheys vastaa vastaanotettua UV-valon määrää, joten valomäärän jakauma on helposti tarkasteltavissa valoherkältä pinnalta.

Toimintaperiaate

Mikrokapseleiden väriä muodostava materiaali reagoi UV-valoon ja vaihtaa näin ollen väriä.

 

Lisätietoa löydät alla olevista datalehtisistä, Fujifilm-sivuilta tai olemalla yhteydessä meihin.

 
    Art.nr
    Malli UVSCALE L UVSCALE M UVSCALE H
    Valon määrän mittausalue (mJ/cm2) 4 - 60 60 - 700 700 - 6000
    Koko 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia)
    Paksuus 0,1 mm 0,1 mm x 2 0,1 mm x 2
    Kalvon tyyppi yksikalvoinen kaksikalvoinen kaksikalvoinen
    Hinta 520 € 520 € 520 €
    Art.nr
    Malli UVSCALE L UVSCALE M UVSCALE H
    Valon määrän mittausalue (mJ/cm2) 4 - 60 60 - 700 700 - 6000
    Koko 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia) 270 mm × 5 m (rulla) / 270 mm × 200 mm (5 arkkia)
    Paksuus 0,1 mm 0,1 mm x 2 0,1 mm x 2
    Kalvon tyyppi yksikalvoinen kaksikalvoinen kaksikalvoinen
    Hinta 520 € 520 € 520 €
    Offertförfrågan

    Offertförfrågan

      Saatat myös pitää...

      Aktuellt

      • Chauvin Arnoux Group – CA Mätsystem Sähkömessuilla Jyväskylässä 7-9.2.2024!
        2024-01-09

        CA osallistuu Jyväskylässä järjestettäville SähköValoTeleAv -messuille 7-9.2.2024. Tule tutustumaan Chauvin Arnoux sekä Metrix mittalaitteisiin messuosastollemme D 101!

      • Teknologia 23 -messut 7-9.11.2023
        2022-10-20

        Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.

      • UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!
        2021-07-01

        Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä.           

      • UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!
        2021-02-17

        Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com