Sauter CK-Y1 Punnituskenno

Sauter CK-Y1 Punnituskenno

Sauter CK-Y1 punnituskenno

  • Mittausepävarmuus OIML C1:n mukainen
  • RoHS-yhteensopiva
  • Korkea tarkkuus (0,05 % F.S.)
  • Erittäin ohuet kennot
  • Käyttökohteet: henkilövaa’at, keittiövaa’at, postivaa’at sekä muut matalan asennuskorkeuden omaavat vaa’at
  • Pöly- ja vesiroisketiivis, IP65
  • Toimitetaan yksittäin

 


      Art.nr CK 10-Y1 CK 30-Y1
      Malli CK 10-Y1 CK 30-Y1
      Nimelliskuormitus 10 kg 30 kg
      Hinta (alv. 0) 23 € 23 €
      Art.nr CK 10-Y1 CK 30-Y1
      Malli CK 10-Y1 CK 30-Y1
      Nimelliskuormitus 10 kg 30 kg
      Hinta (alv. 0) 23 € 23 €

      Saatat myös pitää...

      Aktuellt

      • Chauvin Arnoux Group – CA Mätsystem Sähkömessuilla Jyväskylässä 7-9.2.2024!
        2024-01-09

        CA osallistuu Jyväskylässä järjestettäville SähköValoTeleAv -messuille 7-9.2.2024. Tule tutustumaan Chauvin Arnoux sekä Metrix mittalaitteisiin messuosastollemme D 101!

      • Teknologia 23 -messut 7-9.11.2023
        2022-10-20

        Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.

      • UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!
        2021-07-01

        Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä.           

      • UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!
        2021-02-17

        Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com