Tekscan High Speed I-Scan paineen mittaus

Tekscan High Speed I-Scan paineen mittaus

High Speed I-Scan on Tekscanin I-Scan -järjestelmään perustuva mittausjärjestelmä korkeammalla näytteenottonopeudella (jopa 10 kHz).  Kuten I-Scan, High Speed I-Scan on erittäin käyttäjäystävällinen mittausjärjestelmä. Järjestelmä  kerää ja tallentaa tietoa suoraan tietokoneelle liittyen staattisen ja dynaamisen paineen analysointiin.

Hi Speed I-Scan käyttää Tekscanin patentoimia, ahtaisiin tiloihin soveltuvia, 0,1 mm:n paksuisia antureita. Ohuiden antureiden käytön ansiosta saadaan tulokseksi erittäin todenmukainen kuva paineen jakaumasta.  

I-Scan on edistynyt mutta kuitenkin erittäin helppokäyttöinen järjestelmä voimaa ja painetta koskevien mittaustietojen tarkasteluun reaaliajassa.  Tiedot on mahdollista myös tallentaa, analysoida kuvaajamuodossa tai siirtää  ASCII-ohjelmaan.

 


Lisätietoa teollisuuteen soveltuvista antureista löydät alla olevasta luettelosta
Antureiden käyttämiseen tarvitaan pintapaineen mittaukseen soveltuvaa Tekscan -järjestelmää. Tekscan -järjestelmä koostuu erikoiselektroniikasta, antureista sekä PC-ohjelmistosta. Käytössä tulee myös olla anturin kanssa yhteensopiva ohjelmistolisenssi.

 

Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan -järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa.

Ole hyvä ja ota yhteyttä meihin saadaksesi lisätietoa.

Tekscan tuotevastaava :

Tobias Gustafsson
+46 8 50 52 68 02
tg@camatsystem.com

(ruotsi, englanti)

 


    Tekscan High Speed I-Scan paineen mittaus
    Tuotekoodi
    Järjestelmän tyyppi Paineen mittausjärjestelmä (tuotekehitys ja testaus) / Paineen mittausjärjestelmä (ihmiset ja eläimet)

    Nykyinen

    • Chauvin Arnoux Group – CA Mätsystem Sähkömessuilla Jyväskylässä 7-9.2.2024!
      2024-01-09

      CA osallistuu Jyväskylässä järjestettäville SähköValoTeleAv -messuille 7-9.2.2024. Tule tutustumaan Chauvin Arnoux sekä Metrix mittalaitteisiin messuosastollemme D 101!

    • Teknologia 23 -messut 7-9.11.2023
      2022-10-20

      Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.

    • UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!
      2021-07-01

      Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä.           

    • UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!
      2021-02-17

      Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com