Tekscan I-scan ohjelmistoversion päivitys: versio nro. 9
Tekscan I-scan ohjelmistoversion päivitys: versio nro. 9
Tekscan I-scan uusin ohjelmistoversio on edeltäjäänsä huomattavasti käyttäjäystävällisempi. Asennuksen konfigurointi ja mittaustiedostojen analysointi onnistuu nopeammin uuden ohjelmaversion ansiosta. Uusi ohjelmaversio omaa käyttäjäystävällisen käyttöliittymän, joka antaa paremman kokonaiskuvan järjestelmästäsi ja antaa sinulle mahdollisuuden saada toivomasi mittaustulokset aikasempaa nopeammin.
Päivitetyn ohjelmistoversion etuja:
- Viimeistelty graafinen kokemus.
- Järjestelmän yksinkertaisempi konfigurointi nopeuttaa ja yksinkertaistaa mittaustiedostojen keräämistä.
- Nopeampi pääsy tallennettuihin mittaustiedostoihin.
- Yksinkertaisempi tapa käsitellä saatuja mittaustidostoja sekä mahdollisuus verrata saatuja mittaustiedostoja.
- Nopea pääsy kuvaajiin ja anturialueiden suurentaminen.
- Mahdollista ladata uusia ohjelmia internetin kautta.
Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan -järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa.
Ole hyvä ja ota yhteyttä meihin saadaksesi lisätietoa.
Tekscan tuotevastaava:
Tobias Widman
+46 8 50 52 68 02
tw@camatsystem.com
(ruotsi, englanti)
Valmistaja:
Yhteyshenkilöt
-
Ari Vahanen

Yleiselektroniikka Oy, Product Group Manager
+358 50 598 6647
ari.vahanen@yeint.fi -
Johan Bodin

+46 8 50 52 68 01
jb@camatsystem.com
| Tekscan I-scan ohjelmistoversion päivitys: versio nro. 9 | ||
|---|---|---|
|
||
| Tuotekoodi | ||
| Järjestelmän tyyppi | Paineen mittausjärjestelmä (tuotekehitys ja testaus) / Paineen mittausjärjestelmä (ihmiset ja eläimet) | |
Saatat pitää myös…
-
Tekscan I-Scan paineenmittausjärjestelmä
Mittaukset suoritetaan sijoittamalla 0,1 mm:n paksuisia antureita alustan sekä painavan kohteen väliin.LUE LISÄÄ -
Tekscan NPAT edistynyt nippipainejärjestelmä linearisointiin
Tarkastele telojen välistä paineen jakautumista tallentamalla nippipaineprofiilidataa reaaliajassa.LUE LISÄÄ
Ajankohtaista
-
CA Mätsystem Teknologiamessuilla 9-11.11.20272025-11-04CA Mätsystem osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologiamessuille 9-11.11.2027. Tervetuloa osastollemme tutustumaan erilaisiin sähköturvallisuustestereihin, materiaalitestauksessa käytettäviin testijalustoihin, pintapaineen mittaukseen sekä sähkön laadun ja kulutuksen seurantaan keskittyviin laitteisiin! Edustamme mm. korkealaatuisia Mecmesin, Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.
-
UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!2021-07-01Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä. Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun […]
-
UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!2021-02-17Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com















