KERN OBL-12/OBL-13 Valomikroskooppi
KERN OBL-12/OBL-13 Valomikroskooppi
Valmistaja:
Yhteyshenkilöt
-
Heidi von Bahr
Chauvin-Arnoux edustus Suomessa
+358 94 245 3490
hvb@camatsystem.com
Tuotekoodi | OBL 137 | OBL 127 | OBL 125 |
Malli | OBL 137 | OBL 127 | OBL 125 |
Tyyppi | Trinokulaarinen | Binokulaarinen | Binokulaarinen |
Okulaari | 10× Ø 20,0 mm | 10× Ø 20,0 mm | 10× Ø 20,0 mm |
Objektiivi | 4 x / 10 x / 40 x / 100 x | 4 x / 10 x / 40 x / 100 x | 4 x / 10 x / 40 x / 100 x |
Valonlähde | 3W LED (läpäisevä) | 3W LED (läpäisevä) | 6V 20W Halogeeni (läpäisevä) |
Tuotekoodi | OBL 137 | OBL 127 | OBL 125 |
Malli | OBL 137 | OBL 127 | OBL 125 |
Tyyppi | Trinokulaarinen | Binokulaarinen | Binokulaarinen |
Okulaari | 10× Ø 20,0 mm | 10× Ø 20,0 mm | 10× Ø 20,0 mm |
Objektiivi | 4 x / 10 x / 40 x / 100 x | 4 x / 10 x / 40 x / 100 x | 4 x / 10 x / 40 x / 100 x |
Valonlähde | 3W LED (läpäisevä) | 3W LED (läpäisevä) | 6V 20W Halogeeni (läpäisevä) |
You may also like…
-
KERN OZL-46 Stereomikroskooppi
Joustava, hintansa arvoinen ja monipuolinen stereomikroskooppi zoom-toiminnolla oppilaitos-, koulutus-, laboratorio- sekä tarkastusviranomaisten käyttöön.600.00 € – 690.00 €LUE LISÄÄ -
KERN OIV 3 Videomikroskooppi
KERN OIV 345 videomikroskooppi, Putki 1920 x 1080 HD (5 MP), Objektiivi ,7 x -4,5 x Optinen -17-110 x Digitaalinen195.00 € – 2 520.00 €LUE LISÄÄ
Nykyinen
-
Teknologia 23 -messut 7-9.11.20232022-10-20
Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.
-
UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!2021-07-01
Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä.