KERN OIV 3 Videomikroskooppi

KERN OIV 3 Videomikroskooppi

KERN OIV 3 videomikroskooppi on suunniteltu digitaalisen stereomikroskopian optimoinnin. KERN OIV-345 mahdollistaa näytteiden välittömän, yksinkertaisen näytön ja tallennuksen. Suurella työskentelyalustalla varustettu mikroskooppi soveltuu valvontaan, analysointiin sekä dokumentointiin. Mukana toimitetaan ohjelmisto ja langaton hiiri. Lisätietoa löydät teknisistä tiedoista.

Optinen järjestelmä Aksiaalinen
Suurennussuhde 6,4:1
Zoom [Min] 0,7 x
Zoom [Max] 4,5 x
Valaistus Heijastunut valo
Valaistuksen tyyppi, lähetetty valo LED
Valaistuksen voimakkuus, lähetetty valo 3 W
Työskentelyetäisyys 100 mm
Näytteen korkeus [Max] 110 mm
Jalustan tyyppi mekaaninen
Tarkennusmekanismi karkea säätö
Näytön tyyppi LCD
Näytön koko 12″
Näytön resoluutio 1920×1080 HD
Kamera – Anturin tyyppi Sony CMOS
Kamera – Anturin koko 1/2,8″
Kamera – Resoluutio 5 MP
Käyttöliittymät USB 2.0, HDMI, MikroSD-korttipaikka
Mitat (L×S×K) 320×260×450 mm

Lisävarusteet

Apuobjektiivi OBB-A3225

Tekniset tiedot

Työskentelyetäisyys  165 mm
Nettopaino n.  0,10 kg

 

Apuobjektiivi OBB-A3226

Tekniset tiedot

Työskentelyetäisyys  30 mm
Nettopaino n.  0,10 kg

 

Vaikean valinnan edessä? Ota avuksi alta löytyvä Tarkistuslista: Mikroskoopin valinta.
Autamme löytämään juuri Teidän käyttöönne sopivan mikroskoopin. Saatavilla useita eri malleja.

 

Yhteyshenkilöt

Kenttä on validointitarkoituksiin ja tulee jättää koskemattomaksi.
E-post(Pakollinen)
Tuotekoodi OIV 345 OBB-A3225 OBB-A3226
Malli OIV 345 OBB-A3225 OBB-A3226
Lisävaruste Ei Kyllä Kyllä
Objektiivin työskentelyalue Sisäänrakennettu objektiivi 100 mm OBB-A3225, 165 mm OBB-A3226, 10 mm
2520 Eur 195 Eur 195 Eur
Tuotekoodi OIV 345 OBB-A3225 OBB-A3226
Malli OIV 345 OBB-A3225 OBB-A3226
Lisävaruste Ei Kyllä Kyllä
Objektiivin työskentelyalue Sisäänrakennettu objektiivi 100 mm OBB-A3225, 165 mm OBB-A3226, 10 mm
2520 Eur 195 Eur 195 Eur
Ostaa

Saatat pitää myös…

Liittyvät tuotteet

Ajankohtaista

  • CA Mätsystem Teknologiamessuilla 9-11.11.2027
    2025-11-04

    CA Mätsystem osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologiamessuille 9-11.11.2027. Tervetuloa osastollemme tutustumaan erilaisiin sähköturvallisuustestereihin, materiaalitestauksessa käytettäviin testijalustoihin, pintapaineen mittaukseen sekä sähkön laadun ja kulutuksen seurantaan keskittyviin laitteisiin! Edustamme mm. korkealaatuisia Mecmesin, Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.

  • Ulkona suoritettavien mittausten sesonki on kohta täällä taas!
    2025-03-31
  • UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!
    2021-07-01

    Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä.            Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun […]

  • UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!
    2021-02-17

    Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com