Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin
Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin
K-Scan Joint Analysis -järjestelmä käyttää erittäin ohuita antureita täsmällisen mittausdatan keräämiseen. Saatujen mittaustiedostojen perusteella saadaan objektiivinen ja kvantifioitu niveltoimintoanalyysi. Järjestelmä mittaa vierekkäin sijaitsevien liikkuvien luiden välistä painetta, voimaa ja kosketuspintaa. Saadut tulokset antavat paremman käsityksen nivelten toiminnasta, liikkuvuudesta sekä niille kohdistuvasta kuormituksesta.
Monianturijärjestelmä mahdollistaa erilaisten nivelanalyysien suorittamisen esim. olkapäille, ranteille, polville sekä nilkoille. Tallennusnopeus on jopa 100 Hz.
Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan -järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa.
Ole hyvä ja ota yhteyttä meihin saadaksesi lisätietoa.
Tekscan tuotevastaava:
Tobias Widman
+46 8 50 52 68 02
tw@camatsystem.com
(ruotsi, englanti)
Valmistaja:

Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin | ||
---|---|---|
![]() |
||
Tuotekoodi | ||
Järjestelmän tyyppi | Paineen mittausjärjestelmä (tuotekehitys ja testaus) / Paineen mittausjärjestelmä (ihmiset ja eläimet) |
Saatat pitää myös…
-
Tekscan MobileMat staattisen ja dynaamisen paineenjakauman mittaamiseen
Tekscan MobileMat™-järjestelmä jalkapohjan paineenjakauman tarkkailun analysointiin.LUE LISÄÄ -
Tekscan Strideway paineen mittaus
Tekscan Strideway™-järjestelmä jalkapohjan paineenjakauman tarkkailuun ja analysointiin.LUE LISÄÄ -
Tekscan Grip -järjestelmä
Tekscan Grip mittausjärjestelmä käden otevoiman määrittämiseen. Mittaukset suoritetaan sijoittamalla 0,1 mm:n paksuisia antureita alustan sekä painavan kohteen väliin.LUE LISÄÄ -
Tekscan F-Scan jalan paineen mittaus kengässä
Kenkään sijoitettavat, jalan toimintaa ja kävelyä analysoivat anturit.LUE LISÄÄ
Ajankohtaista
-
CA Mätsystem osallistuu marraskuussa Teknologiamessuille!2025-03-04
CA Mätsystem osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologiamessuille 4-6.11.2025. Tervetuloa osastollemme 6c21 tutustumaan erilaisiin sähköturvallisuustestereihin, materiaalitestauksessa käytettäviin testijalustoihin, pintapaineen mittaukseen sekä sähkön laadun ja kulutuksen seurantaan keskittyviin laitteisiin! Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja. Nähdään osastolla 6c21!
-
Teknologia 23 -messut 7-9.11.20232022-10-20
Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.