Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin

Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin

Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin

K-Scan Joint Analysis -järjestelmä käyttää erittäin ohuita antureita täsmällisen mittausdatan keräämiseen. Saatujen mittaustiedostojen perusteella saadaan objektiivinen ja kvantifioitu niveltoimintoanalyysi. Järjestelmä mittaa vierekkäin sijaitsevien liikkuvien luiden välistä painetta, voimaa ja kosketuspintaa. Saadut tulokset antavat paremman käsityksen nivelten toiminnasta, liikkuvuudesta sekä niille kohdistuvasta kuormituksesta.

Monianturijärjestelmä mahdollistaa erilaisten nivelanalyysien suorittamisen esim. olkapäille, ranteille, polville sekä nilkoille. Tallennusnopeus on jopa 100 Hz.

Sovellukset:
– kuormitusvoiman, paineen sekä kosketuspinnan määritys
– dynaamiseen ja rajoitettuun stressianalyysiin liittyvä data
– implanttisuunnittelun ja liikkuvien nivelten tutkimus 
– ihmisruumiin nivelille suoritettavat tutkimukset (polvet, nilkat, ranteet, lantio, kynärpäät ja olkapäät)
– nivelproteesien suunnittelun ja toiminnon arviointi 
– implanttien validointi ja parannus 
– nivelproteesien käyttöiän pidentäminen
– sisäisen nivelpainejakauman visualisointi

 

Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan -järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa.

Ole hyvä ja ota yhteyttä meihin saadaksesi lisätietoa.

Tekscan tuotevastaava:

Tobias Widman
+46 8 50 52 68 02
tw@camatsystem.com

(ruotsi, englanti)

 


    Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin
    Tuotekoodi
    Järjestelmän tyyppi Paineen mittausjärjestelmä (tuotekehitys ja testaus) / Paineen mittausjärjestelmä (ihmiset ja eläimet)

    Saatat myös pitää...

    Tutustu myös

    Nykyinen

    • Chauvin Arnoux Group – CA Mätsystem Sähkömessuilla Jyväskylässä 7-9.2.2024!
      2024-01-09

      CA osallistuu Jyväskylässä järjestettäville SähköValoTeleAv -messuille 7-9.2.2024. Tule tutustumaan Chauvin Arnoux sekä Metrix mittalaitteisiin messuosastollemme D 101!

    • Teknologia 23 -messut 7-9.11.2023
      2022-10-20

      Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.

    • UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!
      2021-07-01

      Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä.           

    • UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!
      2021-02-17

      Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com