Tekscan Wiper pintapaineen mittaus
Tekscan Wiper pintapaineen mittaus
Tekscan Wiper-järjestelmä mittaa tuulilasinpyyhkijän ja tuulilasin välistä voimaa koko pyhkijän pituudelta, erilaisissa olosuhteissa. Tuulilasin tehokkaasti puhdistavan pyyhkijän suunnitteleminen on monimutkaista. Huomioon otettavia asioita ovat mm. eri pituiset pyyhkijänsulat, kovuus, paineen vaihtelevuus, eri tyyppiset tuulilasit sekä vaihtelut tuulen voimakkuudessa.
Tekscan Wiper-järjestelmä on tärkeä työkalu pyyhinsulkien ja pyyhinjärjestelmien tutkimus- sekä kehitystyön kannalta. Tekscan Wiper -mittausjärjestelmä käyttää 0,1 mm:n paksuisia, joustavia antureita dynaamisessa tiedonkeruussa.
Lisätietoa teollisuuteen soveltuvista antureista löydät alla olevasta luettelosta
Antureiden käyttämiseen tarvitaan pintapaineen mittaukseen soveltuvaa Tekscan-järjestelmää. Tekscan-järjestelmä koostuu erikoiselektroniikasta, antureista sekä PC-ohjelmistosta. Käytössä tulee myös olla anturin kanssa yhteensopiva ohjelmistolisenssi.
Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan -järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa.
Ole hyvä ja ota yhteyttä meihin saadaksesi lisätietoa.
Tekscan tuotevastaava:
Tobias Widman
+46 8 50 52 68 02
tw@camatsystem.com
(ruotsi, englanti)
Valmistaja:

Tekscan Wiper pintapaineen mittaus | ||
---|---|---|
![]() |
||
Tuotekoodi | ||
Järjestelmän tyyppi | Paineen mittausjärjestelmä (tuotekehitys ja testaus) / Paineen mittausjärjestelmä (ihmiset ja eläimet) |
Saatat pitää myös…
-
Tekscan NPAT edistynyt nippipainejärjestelmä linearisointiin
Tarkastele telojen välistä paineen jakautumista tallentamalla nippipaineprofiilidataa reaaliajassa.LUE LISÄÄ -
Tekscan Conformat -järjestelmä pintapaineen mittaukseen
Pintapaineen mittaus istuinten ja tyynyjen optimoimiseksi.LUE LISÄÄ -
Tekscan TireScan pintapaineen mittaus
Renkaiden pintapaineen mittausjärjestelmä.LUE LISÄÄ -
Tekscan I-Scan yhteensopivat High temp -anturit
Tekscan Hightemp -anturit soveltuvat käytettäväksi yhdessä I-Scan -järjestelmän kanssa jopa 200°C:ssa.LUE LISÄÄ
Ajankohtaista
-
CA Mätsystem osallistuu marraskuussa Teknologiamessuille!2025-03-04
CA Mätsystem osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologiamessuille 4-6.11.2025. Tervetuloa osastollemme 6c21 tutustumaan erilaisiin sähköturvallisuustestereihin, materiaalitestauksessa käytettäviin testijalustoihin, pintapaineen mittaukseen sekä sähkön laadun ja kulutuksen seurantaan keskittyviin laitteisiin! Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja. Nähdään osastolla 6c21!
-
Teknologia 23 -messut 7-9.11.20232022-10-20
Chauvin Arnoux Group osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologia 23 -messuille 7-9.2023. Edustamme mm. korkealaatuisia Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.