Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin
Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin
K-Scan Joint Analysis -järjestelmä käyttää erittäin ohuita antureita täsmällisen mittausdatan keräämiseen. Saatujen mittaustiedostojen perusteella saadaan objektiivinen ja kvantifioitu niveltoimintoanalyysi. Järjestelmä mittaa vierekkäin sijaitsevien liikkuvien luiden välistä painetta, voimaa ja kosketuspintaa. Saadut tulokset antavat paremman käsityksen nivelten toiminnasta, liikkuvuudesta sekä niille kohdistuvasta kuormituksesta.
Monianturijärjestelmä mahdollistaa erilaisten nivelanalyysien suorittamisen esim. olkapäille, ranteille, polville sekä nilkoille. Tallennusnopeus on jopa 100 Hz.
Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan -järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa.
Ole hyvä ja ota yhteyttä meihin saadaksesi lisätietoa.
Valmistaja:
Yhteyshenkilöt
-
Ari Vahanen

Yleiselektroniikka Oy, Product Group Manager
+358 50 598 6647
ari.vahanen@yeint.fi -
Markus Tollefors

+46 8 50 52 68 09
mt@camatsystem.com -
Tobias Widman

+46 8 50 52 68 02
tw@camatsystem.com
| Tekscan K-Scan paineenmittausjärjestelmä niveltoiminnan analysointiin | ||
|---|---|---|
|
||
| Tuotekoodi | ||
| Järjestelmän tyyppi | Paineen mittausjärjestelmä (tuotekehitys ja testaus) / Paineen mittausjärjestelmä (ihmiset ja eläimet) | |
Saatat pitää myös…
-
Tekscan F-Scan jalan paineen mittaus kengässä
Kenkään sijoitettavat, jalan toimintaa ja kävelyä analysoivat anturit.LUE LISÄÄ -
Tekscan MobileMat staattisen ja dynaamisen paineenjakauman mittaamiseen
Tekscan MobileMat™-järjestelmä jalkapohjan paineenjakauman tarkkailun analysointiin.LUE LISÄÄ -
Tekscan Strideway paineen mittaus
Tekscan Strideway™-järjestelmä jalkapohjan paineenjakauman tarkkailuun ja analysointiin.LUE LISÄÄ -
Tekscan Grip -järjestelmä
Tekscan Grip mittausjärjestelmä käden otevoiman määrittämiseen. Mittaukset suoritetaan sijoittamalla 0,1 mm:n paksuisia antureita alustan sekä painavan kohteen väliin.LUE LISÄÄ
Ajankohtaista
-
CA Mätsystem Teknologiamessuilla 9-11.11.20272025-11-04CA Mätsystem osallistuu Helsingin messukeskuksessa järjestettäville Teknologiamessuille 9-11.11.2027. Tervetuloa osastollemme tutustumaan erilaisiin sähköturvallisuustestereihin, materiaalitestauksessa käytettäviin testijalustoihin, pintapaineen mittaukseen sekä sähkön laadun ja kulutuksen seurantaan keskittyviin laitteisiin! Edustamme mm. korkealaatuisia Mecmesin, Tekscan, Alluris, Fujifilm, ETL sekä Chauvin Arnoux -mittalaitteita, jotka soveltuvat paine-, veto- ja vääntövoiman sekä sähköteknisiin mittauksiin. Tarjoamme myös laadukkaita ja monipuolisia kalibrointipalveluja.
-
UUTTA: Fujifilm-mittauskalvot löytyvät nyt nettisivuiltamme!2021-07-01Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun kokoinen pala rullasta tai valmiista arkeista ja aseta tämä tarkasteltavien pintojen väliin. Paineenjakauma/Lämmönjakauma/UV-valon jakauma näkyy kalvossa eri värisävyinä. Ainutlaatuiset Fujifilm-paineenmittauskalvot löytyvät nyt suomenkielisiltä nettisivuiltamme. Valikoimaan kuuluu kertakäyttöiset PRESCALE-paineenmittauskalvot, THERMOSCALE-lämmönmittauskalvot sekä UVSCALE-ultraviolettivalon mittauskalvot Leikkaa halutun […]
-
UUTTA: Tekscan pintapaineen mittausjärjestelmät löytyvät nyt nettisivuiltamme!2021-02-17Ruotsalainen CA Mätsystem toimii korkealaatuisten, yhdysvaltalaisvalmisteisten Tekscan-järjestelmien sekä -antureiden edustajana myös Suomessa. Tekscan tarjoaa laajan valikoiman mittalaitteita erilaisiin mittaus- ja testausvaiheisiin teollisuudessa sekä lääketieteen eri sovelluksiiin. Tekscan-järjestelmiin pääset tutustumaan klikkaamalla Pintapaineen mittaus – Tekscan -alaosastoa. Ota meihin yhteyttä saadaksesi lisätietoa edustamistamme pintapaineen mittausjärjestelmistä: info@camatsystem.com




